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德国马尔 Mahr MarSurf CM expert 3D 表面测量

MarSurf CM expert 是强大的可配置型共聚焦显微镜,用于表面的三维测量和分析 - 非接触,不受材料影响,而且速度快。
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仪器详情
仪器参数
免费测样

产品信息


高性能实验室和 QA 系统

MarSurf CM expert  有坚固的结构且对环境波动不敏感,所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。 

额外的手动 Z 定位、大 x 和 y 行程范围和能够实现自动化,使其有优异的易用性。






典型测量任务

•粗糙度测量符合

ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178

•表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学)

•轮廓和形状 (2D, 3D)

•孔,颗粒分析

•缺陷检测

•...





非常高的数据质量

我们非常重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录,可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供非常高的服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等。




产品信息

高性能实验室和 QA 系统

MarSurf CM expert  有坚固的结构且对环境波动不敏感,所以适合测试实验室和生产环境中的质量保证测量。 额外的手动 Z 定位、大 x 和 y 行程范围和能够实现自动化,使其有优异的易用性。



典型测量任务

•粗糙度测量符合

ISO 4287 & ISO 13565 / ISO 25178

•表面特征轮廓测量(包括体积、磨损、摩擦学)

•轮廓和形状 (2D, 3D)

•孔,颗粒分析

•缺陷检测

•...



非常高的数据质量

我们非常重要的标准之一,即优异的精度、准确性、可重复性、可再现性和文档记录,可保证可追溯性和可审核性。我们为客户提供非常高的服务就是提供能够可靠地用于工程、产品、工艺设计和质量控制领域的定量测量值等。


MarSurf CM expert 3D 表面测量 技术参数
测量头
explorerexpertselectmobile
图像采集模块x∙y 单一测量最大测量点数量1200 × 1200 =1.44 Mio.1200 × 1200 =1.44 Mio.1200 × 1200 =1.44 Mio.1200 × 1200 =1.44 Mio.
最大分辨率下最大图像率 (Hz)125/(100)25/(100)100 / (25)25/100
HDR 功能(16 位)标准标准标准标准
彩色图像采集可选可选可选可选
最大测量点数 量2 (Mio.)
1213121312131213
垂直测量模块电动定位单元线性编码器标准标准可选可选
垂直测量范围 (mm)707010035
精细定位模 块(压电模 块)垂直测量范围 (µm)350350350350
x、y、z 碰撞 检测
标准标准可选-
物镜支架4 孔物镜转盘标准标准可选标准
无物镜转盘-可选标准可选

1) 应要求提供 2) 拼接测量可采集的测量点最大总数。



配置explorerexpertselectmobile
L 形支架
LL龙门式便携式
质量 (kg)25483008.3
定位体积x ∙ y ∙ z (mm)50 × 50 × 70100 × 100 × 701200 × 200 × 100 550 × 50 × 35
300 × 300 × 100
x、y 线性编码器
标准标准可选标准
系统控制器集成集成轮式控制柜集成
被动减振集成集成标准可选
主动减振可选可选可选可选

1) 可利用集成的手动 z 轴扩展到 150mm



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