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日立 HITACHI X-MET8000 手持式 X 射线荧光 (XRF) 光谱仪

X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 光谱仪,为安全攸关的应用场合带来出色的现场合金分析。
该分析仪具备轻便性,采用了符合人体工学的设计,因此操作舒适,适合日常使用。其优化的机头设计可轻松测试弯曲或拐角内部的材料。得益于我们独有的 HERO™(耐热)窗口,您可准确分析温度高达400ºC 的合金。
借助 X-MET8000,您可非常大限度减少实验室检测工作,并降低成本,同时确保安全性和合规性。
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仪器详情
仪器参数
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X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 光谱仪,为安全攸关的应用场合带来出色的现场合金分析。

该分析仪具备轻便性,采用了符合人体工学的设计,因此操作舒适,适合日常使用。其优化的机头设计可轻松测试弯曲或拐角内部的材料。得益于我们独有的 HERO™(耐热)窗口,您可准确分析温度高达400ºC 的合金。借助 X-MET8000,您可非常大限度减少实验室检测工作,并降低成本,同时确保安全性和合规性。


X-MET8000 具有耐冲击外壳,且在显示屏、仪器头部及电池周围均采用环保密封和减震橡胶,可有效防止受到撞击。采用大面积散热器,即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性。防护窗口(Expert 及 Optimum 型号的选购件)和高强度厚 Kapton®窗口(Smart 型号)可防止探头和X射线管在测试小部件与尖锐物品时受损。


可存储多达十万个检测结果,包括光谱谱图和样品图像(若配备相机)结果和报告可直接下载到 U 盘,或通过 USB 数据线传到PC上,也可利用 WiFi 或蓝牙实现网络共享;可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式,以确保数据完整性。使用 X-MET 报告生成器创建自己的报告(无需安装任何软件)。此类报告可以包括公司徽标、样品图像、分析结果、光谱图和额外的样品信息。


X-MET8000 内含有非常全面的牌号库:预安装的、用户可选的 AISI、DIN、JIS 和 GB 牌号库覆盖超过 1600 种合金。用户可对现有牌号库进行修改,添加新牌号(例如某个厂商或者产地特定牌号),或者创建自己的牌号库(例如特定的焊接材料牌号库)


产品特点:

1、分析结果值得您信任

X-MET8000 完美结合了通用的基本参数 (FP) 方法和经验系数法(可溯源的标准物质),可提供超高的分析精密度和准确度。

2、性能优异 

该分析提供的出色轻元素(Mg 至 S)分析可对组件及系统进行严格控制。检测限制低,可准确分析微量元素/残存元素以及识别牌号。

3、易于操作

直观的图标驱动式用户显示意味着操作员几乎不需任何培训。大屏幕方便操作员阅读,且可在穿戴手套的情况下操作。无需使用任何工具便可更换已损坏或玷污的可快速更换防护窗口。

4、稳健

X-MET8000 具备 IP54 防护等级(相当于 NEMA3),有着超高的防尘和防水性能。该分析仪符合 MIL-STD-810G 军用级强度标准。

5、可选准直器

可选的小点准直器(3 毫米直径),用于更加准确地分析特点区域(如焊料),不受周边材料干扰。


X-MET8000 是一款手持式 X 射线荧光 (XRF) 光谱仪,为安全攸关的应用场合带来出色的现场合金分析。

该分析仪具备轻便性,采用了符合人体工学的设计,因此操作舒适,适合日常使用。其优化的机头设计可轻松测试弯曲或拐角内部的材料。得益于我们独有的 HERO™(耐热)窗口,您可准确分析温度高达400ºC 的合金。借助 X-MET8000,您可非常大限度减少实验室检测工作,并降低成本,同时确保安全性和合规性。


X-MET8000 具有耐冲击外壳,且在显示屏、仪器头部及电池周围均采用环保密封和减震橡胶,可有效防止受到撞击。采用大面积散热器,即便在高温环境下也能提供理想的可靠性和稳定性。防护窗口(Expert 及 Optimum 型号的选购件)和高强度厚 Kapton®窗口(Smart 型号)可防止探头和X射线管在测试小部件与尖锐物品时受损。


可存储多达十万个检测结果,包括光谱谱图和样品图像(若配备相机)结果和报告可直接下载到 U 盘,或通过 USB 数据线传到PC上,也可利用 WiFi 或蓝牙实现网络共享;可保存成 CSV 格式或防篡改的 PDF 格式,以确保数据完整性。使用 X-MET 报告生成器创建自己的报告(无需安装任何软件)。此类报告可以包括公司徽标、样品图像、分析结果、光谱图和额外的样品信息。


X-MET8000 内含有非常全面的牌号库:预安装的、用户可选的 AISI、DIN、JIS 和 GB 牌号库覆盖超过 1600 种合金。用户可对现有牌号库进行修改,添加新牌号(例如某个厂商或者产地特定牌号),或者创建自己的牌号库(例如特定的焊接材料牌号库)


产品特点:

1、分析结果值得您信任

X-MET8000 完美结合了通用的基本参数 (FP) 方法和经验系数法(可溯源的标准物质),可提供超高的分析精密度和准确度。

2、性能优异 

该分析提供的出色轻元素(Mg 至 S)分析可对组件及系统进行严格控制。检测限制低,可准确分析微量元素/残存元素以及识别牌号。

3、易于操作

直观的图标驱动式用户显示意味着操作员几乎不需任何培训。大屏幕方便操作员阅读,且可在穿戴手套的情况下操作。无需使用任何工具便可更换已损坏或玷污的可快速更换防护窗口。

4、稳健

X-MET8000 具备 IP54 防护等级(相当于 NEMA3),有着超高的防尘和防水性能。该分析仪符合 MIL-STD-810G 军用级强度标准。

5、可选准直器

可选的小点准直器(3 毫米直径),用于更加准确地分析特点区域(如焊料),不受周边材料干扰。



X-MET8000 手持式 X 射线荧光 (XRF) 光谱仪技术参数

X-MET8000
Smart
X-MET8000
Optimum
X-MET8000
Expert
说明对常用合金进行常规鉴别和
分析的明智选择
经过优化,可快速分拣及分
析合金,从铝到铜、再到不
锈钢等
旗舰产品,性能优异,
可精确分析轻元素
(Mg、Al、Si、P、S)、杂质
元素及痕量元素
X光管40千伏40千伏或50千伏(取决于
具体的应用)
50千伏
X光管过滤器单个过滤器6位过滤器,适用于从Mg至U的所有元素的优化分析
探测器大面积硅漂移探测器大面积硅漂移探测器大面积硅漂移探测器
元素范围K-UMg-U
样品温度≤400℃100℃
400C,带HEROTM(耐热)窗口(选购件)

P54等级
重量1.5千克1.5千克1.5千克
电池续航能力10 - 12小时10 - 12小时10 - 12小时
保护探测器窗口不受损坏厚Kapton®窗口可选窗口保护罩
校准无标样FP法无标样FP法(含轻元素分析 )无标样FP法+自动选择经验
校准(可溯源的标准物质),
可提供高精度及高准确度


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